高反光物体表面的三维形貌测量在各个领域有大量的需求和应用。由于高反光表面镜面反射和背景光照的干扰，传统条纹投影测量方法难以满足实际测量要求。论文基于条纹反射测量系统，在高反光表面测量方法研究中，采用了格雷码-相移的结构光，针对编、解码过程中存在的周期错位问题，提出了一种循环互补格雷码的校正方法。搭建测量系统对直径500mm的凹面镜进行测量实验，实验结果表明，凹面镜测量高度的误差为0.0067mm，证明了该方法的有效性。
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