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摘要
本发明公开了一种光学偏折三维测量中的大视场参考平面标定方法,其步骤包括：首先采集参考平面上棋盘标定板的镜像图片,并通过张正友标定方法来确定相机的内部和外部参数；然后通过每组标定板镜像图片间的正交约束来确定参考平面到相机的外部参数；最后通过添加每组标定板间的共平面约束,利用LM优化方法获得相机与参考平面之间外部参数的最优解。本发明利用大视场参考平面上多个棋盘标定板位置之间的共平面性约束获得参考平面到相机的位姿转换参数,从而提高标定方法的鲁棒性以及准确性。
- 出版日期2021-6-17
- 单位合肥工业大学
