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摘要
通过环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,对22个基因型的燕麦籽粒皮层、糊粉层、近糊粉层和颖果中部的Si含量进行测定。结果表明,Si元素在燕麦籽粒不同部位的含量有明显差异,皮层和糊粉层Si含量较高,近糊粉层和颖果中部含量较低,在颖果中Si主要富集在糊粉层中;而且不同基因型燕麦籽粒同一部位或不同部位Si的积累量也有较大差异,这可能是由遗传差异引起的。糊粉层中的Si含量影响着近糊粉层和颖果中部的Si含量。另外,籽粒不同部位Si含量与P、Ca、Mg、S、Al、Pb含量之间存在显著或极显著的非线性关系,颖果中部的Si含量与K、Cd含量之间不存在显著的非线性关系。说明Si在燕麦籽粒中富集的同时也影...
