摘要

<正>大脑新皮质(cerebral cortex)发育过程较为复杂,包括神经元细胞的增殖和移行、突触建立及大脑沟回形成等几个相互重叠的过程。以往组织学观察为大脑新皮质的主要研究方法,因此人们对大脑新皮质发育并无直观及清晰的认识;随着影像诊断技术的发展,影像学与组织学已成为大脑新皮质发育研究的重要方法。本文对胎儿大脑新皮质胚胎发育特点、新皮质发育早期端脑壁层状结构、中晚期大脑沟回定性研究技术及胎儿大脑沟回深度测量方法等

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