应用对称编码的测试数据压缩解压方法

作者：梁**; 蒋翠云; 罗强

来源：Z201112030, 2011, (12): 2391-2399.

• 测试数据压缩
• SoC测试
• 游程
• 无关位
• SVC编码 test data compression
• SoC test
• runs
• don't care bits
• SVC code

随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这样给集成电路测试带来了巨大的挑战,测试数据压缩技术能够有效降低对昂贵的ATE性能要求.提出一种对称编码方法,能有效地提高测试数据压缩率,降低测试成本.传统的编码技术采用对0游程或1游程进行编码,但由于ATPG工具生成的测试集中存在大量的无关位(X位),因此以前编码方法未能有效利用测试集的特征.该方法采用对称计算游程的方法,它同时对提出的4类对称性游程编码,且能减短对应码字长度,有效提高压缩率.实验结果和理论分析表明该方案能较以往方法能取得很好的压缩效果,且能适应多样编码对象...

• 出版日期2011
• 单位合肥工业大学