A study on the competition between bias-induced charge trapping and light-induced instability in In-Ga-Zn-O thin-film transistors (vol 36, pg 135, 2016)

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作者：Park Jozeph^*; Nguyen Dinh Trung; Kim Yang Soo; Kim Jong Heon; Park Kyung; Kim Hyun Suk^*

来源：Journal of Electroceramics, 2016, 36(1-4): 141-141.

DOI：10.1007/s10832-016-0042-1

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更新时间：2021-03-12 05:12

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