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一种高效检测小间距COB显示模组像素坏点的方法

李宗涛; 汤勇; 颜才满; 饶龙石; 卢汉光; 余彬海
华南理工大学
华南理工大学

摘要

本发明公开了一种高效检测小间距COB显示模组像素坏点的方法,包括步骤:在COB显示模组基板上预留RGB三种芯片的独立检测电路;对RGB芯片进行固晶焊线;对R电路、G电路或B电路整体电路检测确定坏点所在行;二分法定位高效定位坏点;替换修复坏点;重新检测直至电路全部点亮;对剩下的两种颜色芯片重复步骤定位修复坏点;硅胶封装COB显示模组;切割划断COB显示模组的预留电路;本发明方法在模组封装之前,利用预留的电路简单快捷进行整体检测,进而利用二分法快速定位及修复坏点,并且在封装之后将预留电路断开不影响显示模组的实际应用,为下一步的控制电路安装消除了质量隐患,在小间距显示领域中具有重要的实际意义。

关键词

-

出版信息

专利状态
授权
专利国别
CHINA
专利有效期
2018-10-9 ~ 2038-10-9
专利号
ZL201811173674.6
公开号
CN109616034A

学科领域

物理学生物学

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