详细回顾了有关等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电热效应研究的现状;提出了处理过程中电解液/基体界面上离散气泡类型和数量上的变化造成了微放电外观的演化.基于微放电的圆柱形通道模型,并借鉴点热源的传热公式,估算了发生在通道内部及放电衰退过程中毗邻膜层的温度场,为膜层中存在的物相种类(MgAl2O4,Mg2SiO4等)及晶态类型提供了初步的理论分析.
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