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摘要
为了真实地描述带电粒子束的光学特性,文章对粒子轨迹跟踪中粒子初始条件的随机抽样进行了探讨。粒子的发射面包括平面、圆柱面和球面;分布函数既可由解析形式表示,又可由数值形式给出。其次,为了有效地利用轨迹跟踪结果对带电粒子束特性进行系统的分析,文章还探讨了粒子轨迹的图形处理和分析,内容包括轨迹的样条拟合、轨迹和束包络图形的绘制、象的尺寸及其位置的确定,以及任意横截面上粒子分布图形的绘制。
- 出版日期1990
- 单位中国原子能科学研究院; 华南理工大学
为了真实地描述带电粒子束的光学特性,文章对粒子轨迹跟踪中粒子初始条件的随机抽样进行了探讨。粒子的发射面包括平面、圆柱面和球面;分布函数既可由解析形式表示,又可由数值形式给出。其次,为了有效地利用轨迹跟踪结果对带电粒子束特性进行系统的分析,文章还探讨了粒子轨迹的图形处理和分析,内容包括轨迹的样条拟合、轨迹和束包络图形的绘制、象的尺寸及其位置的确定,以及任意横截面上粒子分布图形的绘制。
