改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法

作者：陈乐; 周永霞; 祖佳贞

来源：计算机工程与应用, 2022, 1-12.

• 偏光片表面
• 缺陷检测
• YOLOX-S
• 自适应平衡特征金字塔
• CIoU
• Mish

偏光片是液晶显示器的重要组成部分，其表面缺陷不仅会降低液晶显示器的显示质量，甚至可能造成整个液晶面板的报废。针对偏光片表面缺陷存在尺度差异大、形状变化多样的问题，提出一种改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法。提出自适应平衡特征金字塔（ABFP）模块充分融合主干网提取的多级特征，并通过单个卷积增加检测分支，进一步增强模型的多尺度检测能力。其次，在ABFP中引入注意力模块CBAM关注重要特征。此外，采用CIoU损失函数的同时使用Mish激活函数替代SiLU激活函数。实验结果表明，改进的算法在偏光片表面缺陷数据集上的mAP50和mAP50：95分别达到92.97%和55.16%，相比YOLOX-S（FPN）提升了1.86%和1.35%，每秒检测帧数（FPS）达到50，基本满足工业实时检测的需求。

• 出版日期2022-12-14
• 单位中国计量大学