摘要

DAG-MAP是一个面向延迟优化的FPGA工艺映射算法,其中的标记过程是该算法的核心.文章对原算法中的标记过程进行了研究,并且提出了一个改进的标记方法.通过对MCNC标准测试电路的实验结果表明该算法比原算法更为有效,并且算法所用时间没有明显的增加.