本文运用光测力学新方法——贴片云纹干涉法测定了含非穿透表面裂纹的C/E复合材料层板的面内位移场,并与有限元计算进行了比较,结果表明实验条纹与计算等值条纹在图样形状和量值上均具有良好的一致性。为定量分析研究复合材料缺陷问题提供了一条新的途径。
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