采用电感耦合等离子体质谱(简称ICP-MS)法测定钼精矿中的杂质元素砷、锡、磷铜、铅、钙、钨、铋。讨论了钼基体的谱线干扰,比较了钼基体产生的多原子离子的干扰程度,利用In、Cs双内标校正系统有效地抑制了分析信号的动态漂移。建立了测定钼精矿中的As、Sn、P、Ca、W、B i、Cu、Pb等8个元素的ICP-MS方法,与国标方法对照分析结果令人满意,RSD为0.5%3.1%。
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