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摘要
针对现有电路板边界扫描器件与非边界扫描器件同时存在,致使测试覆盖率较低的问题,提出对非BS器件模型化分类的测试方法.以器件的可测属性为依据,对其进行分类并抽象建模.将板上器件及线网抽象为有向图,基于迪杰斯特拉算法及广度优先搜索算法,构建了电路板的可达测试模型.对可达测试模型和簇测试模型的生成方法进行了形式化定义,并给出模型的测试方案.实验结果表明,该方法比现有簇测试方法测试覆盖率更高,进一步扩展了板上非BS器件的可测范围,并能很好的应用于自动测试.
- 出版日期2014
- 单位中国人民解放军信息工程大学
