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A Novel Cascade-Free 5-V ESD Clamp Using I-MOS: Proposal and Analysis

作者：Sithanandam Radhakrishnan; Kumar M Jagadesh
来源：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2016, 16(2): 200-207.
DOI：10.1109/TDMR.2016.2557360
  • 出版日期2016-6

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更新时间：2021-03-21 00:46