电路设计中元器件的使用可靠性

作者：王殿超; 郑学仁

来源：电子产品可靠性与环境试验, 2007, (05): 8-10.

• 元器件
• 使用可靠性
• 失效 electronic components
• operational reliability
• failure

元器件的使用可靠性是整机可靠性的关键和基础。结合工作实践,对电路设计中元器件的使用可靠性、失效原因进行了分析、总结,并提出了提高电子元器件应用可靠性的建议。

• 出版日期2007
• 单位华南理工大学