登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
Dark-field X-ray microscopy for multiscale structural characterization (vol 6, pg 6098, 2015)
作者：Simons H; King A; Ludwig W; Detlefs C; Pantleon W; Schmidt S; Stoehr F; Snigireva I; Snigirev A; Poulsen H F
来源：
Nature Communications
, 2015, 6(1): 6612.
DOI：10.1038/ncomms7612
出版日期
2015-3
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
