本发明提供一种像素测试电路,其用于通过量测机台测量AMOLED的像素元件的参数,其包括：多个像素电路组,所述多个像素电路组的任一个包括多个像素电路,所述多个像素电路为相同的电路且彼此连接；以及至少一个开关电路,所述开关电路由多个薄膜场效应晶体管构成,设置于所述多个像素电路组之间,使所述多个像素电路组彼此构成并联连接；其中所述开关电路用于连接或者断开所述多个像素电路组的并联连接。
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