摘要

为提高CMOS/纳米线/分子混合电路的成品率,提出一种基于分段蛇形编码的容错映射算法。根据纳米阵列缺陷分布的集簇性特点,给出缺陷整体分类方法。在阵列连通域的约束条件下对电路进行分段蛇形编码以避开缺陷单元,提高电路映射边的成功率,获得优化的初始映射解。依据目标函数设定违反约束映射边的惩罚系数,并采用自适应遗传算法对解空间进行搜索,实现电路的容错映射。ISCAS89标准电路的测试结果表明,与现有容错映射算法相比,该算法在运行时间、电路规模和映射成功率方面均具有较高的性能优势。