研究了750℃、应力水平为200、240 MPa条件下带V型缺口和光滑表面的GH3536圆棒试件的蠕变性能。通过扫描显微镜从微观角度分析了缺口对蠕变断裂的影响机理。采用修改的K-R模型,研究了缺口应力和损害蠕变时间的变化。结果表明:V型缺口提高了蠕变实验的强度,随着应力的增加,其强化效应增强。V型缺口圆棒试样的蠕变损伤和局部失效全都出现在缺口根部相对较浅的位置。
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