检测绝缘子表面污秽受潮的方法、装置及系统

作者:廖一帆; 张飞; 张福增; 阳林; 郝艳捧; 陈少杰; ***; 李立浧
来源:2016-05-27, 中国, CN201610367519.2.

摘要

本发明涉及一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法、装置及系统,其中方法包括以下步骤:测量表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值,并根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率;根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。本发明所提出的方法、装置及系统利用待测绝缘子的表面电阻值,根据表面电阻值计算得到待测绝缘子表面污秽的局部表面电导率,最终根据待测绝缘子表面污秽的局部表面电导率确定待测绝缘子的污秽受潮等级,实现对待测绝缘子表面污秽受潮程度的检测和定量测量,由于检测过程中无需使用高压,检测过程不会对待测绝缘子表面污秽的受潮程度产生直接影响,因此对待测绝缘子表面污秽受潮的检测和测量更加准确。