为了探究开口区域对服装整体屏蔽效能的影响规律及发生机理，采用半电波暗室搭建系统对电磁屏蔽服装进行测试，结合电磁理论对试验结果进行分析。结果表明：任何位置的开口区域均会对电磁屏蔽服装屏蔽效能产生降低作用，尺寸越大则这种作用越明显；开口距离测试点越近，对服装屏蔽效能的降低作用越大，其中距离测试点位置最近的开口对服装的影响占有重要权重。认为：应合理对开口进行设计，以保证电磁屏蔽服装整体防护性能。
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