基于高斯拟合测量CCD灵敏度均匀性

作者：丰生日; 曹益平

来源：工具技术, 2014, (04): 83-86.

DOI：10.16567/j.cnki.1000-7008.2014.04.032

• 面阵CCD
• 菲涅尔衍射
• 高斯曲面拟合
• 零点像素
• 灵敏度 matrix CCD
• Fresnel diffraction
• Gauss curved surface fitting
• zero pixel
• sensitivity

在精密度要求较高的图像测量领域中,CCD灵敏度的不均匀对测量精度有较大的影响。因此,提出了一种基于小孔衍射原理的高斯曲面拟合像面光场测量CCD灵敏度均匀性的方法。由于CCD自身的物理结构设计不均匀性、响应非线性以及暗电流等噪声因素使得光响应偏离实际值,该方法通过对CCD像面上感兴趣光场域进行高斯曲面拟合来确定零点像素的灰度响应。对所有像素测量完成之后通过归一化即可计算出CCD灵敏度均匀性。实验结果表明:对所使用的CCD47-10系列,计算其CCD灵敏度均匀性为2.14%。该测量方法基本满足设计原理简单、稳定性可靠、抗干扰能力强的要求,完成了快速、自动测量。

• 出版日期2014
• 单位四川大学