本文在Hennie(1966),Kohavi(1974)等文章的基础上,着重研究了无鉴别序列时序机之校验试验设计问题,提出同时应用应变序列和引导序列的方法改进目前使用的校验试验方法,因而大大地缩短了无鉴别序列的时序机校验试验之长度。文章不仅以实例说明本文提出之设计方法的优越性,同时也从校验试验的长度及其上界的计算和分析,从理论上证明了所得结论之正确性。
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