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摘要
一般情况下电子产品在失效前性能已经发生退化，而传统的寿命预测方法没有利用退化信息。以智能脱扣器电源模块为研究对象，分析MOSFET开关周期和电路薄弱环节储能电容退化之间的关联关系，提出将MOSFET开关周期作为电源模块性能退化的特征量，建立以MOSFET开关周期为特征参量的智能脱扣器电源模块性能退化模型；将电源模块划分为健康、注意和危险3种健康状态，确定健康状态转移图和转移时间的计算方法，建立其健康状态评估模型；对电源模块进行温度应力下的加速退化实验，验证性能退化模型和健康状态评估模型，并预测电源模块在40℃工作环境下由健康状态转移至注意状态的平均转移时间为3 906天，转移至危险状态的平均转移时间为9 296天。
- 出版日期2023
- 单位河北工业大学
