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A Fault Analysis Perspective for Testing of Secured SoC Cores
作者:Ali Sk Subidh
*
; Mazumdar Bodhisatwa; Mukhopadhyay Debdeep
来源:
IEEE DESIGN %26 TEST
, 2013, 30(5): 63-73.
DOI:10.1109/MDAT.2013.2252951
Field programmable gate arrays
Equations
Circuit faults
Algorithm design and analysis
Doped fiber amplifiers
System-on-chip
Mathematical model
SoC
AES
AES key schedule
Differential Fault Analysis
Fault Model
出版日期
2013-10
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