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Using Power Clues to Hack IoT Devices The power side channel provides for instruction-level disassembly

作者：Park Jungmin*; Tyagi Akhilesh
来源：IEEE Consumer Electronics Magazine, 2017, 6(3): 92-102.
DOI：10.1109/MCE.2017.2684982
  • 出版日期2017-7

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更新时间：2021-01-17 19:37