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摘要
本发明提供了一种用于AMOLED显示器的测试电路,其包括：第一薄膜晶体管,其栅极用于接收第一发光控制信号,且其漏极用于接收低电位的关断信号,且其源极连接至第一节点；第二薄膜晶体管,其栅极用于接收第一扫描信号,且其漏极用于接收低电位的关断信号,且其源极连接至第三薄膜晶体管的漏极；第三薄膜晶体管,其栅极用于接收第二使能信号,且其源极连接至第一节点；第四薄膜晶体管,其栅极用于接收第二扫描信号,且其源极用于接收第一发光控制信号,且其漏极连接至第一节点；第五薄膜晶体管,其栅极用于接收第一使能信号,且其源极用于接收第一发光控制信号,且其漏极连接至第一节点；第一使能信号和第二使能信号的电位互反。本发明避免了漏检现象。
- 出版日期2017-11-24
