DC/DC辐照损伤与VDMOS器件1/f噪声相关性研究

作者：王党会; 许天旱; 王党朝; 曹衎

来源：半导体技术, 2008, (12): 1057-1061.

• DC/DC转换器
• 1/f噪声
• 可靠性
• 相关性 DC/DC converter
• 1/f noise
• reliability
• relationship

通过对DC/DC转换器低频噪声测试技术以及在γ辐照前后电性能与1/f噪声特性变化的对比分析,发现使用低频噪声表征DC/DC转换器的可靠性是对传统电参数表征方法的一种有效补充。对DC/DC转换器辐照损伤与其内部VDMOS器件1/f噪声相关性进行了研究,讨论了引起DC/DC转换器辐照失效的原因。

• 出版日期2008
• 单位西安石油大学; 咸阳师范学院