ARL—3520AES电感耦合等离子体发射光谱仪疑难故障的分析与排除

作者：方跃平; 徐盈

来源：分析测试技术与仪器, 1996, (01): 45-49.

• ICP－AES
• 故障
• 微处理器
• 信号 ICP-3520AES
• Breakdown
• Microprocessor
• Signal

介绍了在瑞士ＡＲＬ公司生产的ＩＣＰ—３５２０ＡＥＳ型电感耦合等离子体原子发射光谱仪上存在的一种疑难故障的分析与排除过程，对同类型仪器的故障分析有借鉴作用．

• 出版日期1996
• 单位中国科学院水生生物研究所