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Data-Cell-Variation-Tolerant Dual-Mode Sensing Scheme for Deep Submicrometer STT-RAM

作者：Na Taehui; Song Byungkyu; Kim Jung Pill; Kang Seung H; Jung Seong Ook
来源：IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2018, 65(1): 163-174.
DOI：10.1109/TCSI.2017.2712363
  • 出版日期2018-1

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更新时间：2022-08-19 13:38