DS18B20的实用技术及冗余校验

作者：韩成浩

来源：微计算机信息, 2010, (13): 124-125+112.

• 单总线技术
• 冗余校验
• 单片机
• DS18B20 1-Wire technology
• redundancy check
• single-chip machine
• DS18B20

本文论述了DS18B20的单点测温方法和多点测温方法,重点阐述了DS18B20的CRC冗余校验计算方法及具体软件编程。现场试验证明,采用CRC冗余校验,可提高温度的测量精度和测量效果,具有较强的在线检测功能,适用于测量精度要求高的场合,有非常广泛的应用前景。

• 出版日期2010-5-5
• 单位吉林建筑大学