摘要

采用C8051F340为核心,实现一个I/O对多个单总线温度器件DS18B20的测温系统时,发现离主机较远的测温点器件信息未能获取,产生器件遗漏的现象。实验分析发现单总线多点温度测量系统中,总线分布电容和电阻引起单总线上信号衰减,导致离主机较远的温度器件收到的主机指令出现错误。经过大量测试实验,提出改变总线拓扑结构和提升总线电平两种可行方案,有效的解决了多点测温系统中温度器件漏读问题,并且增加了系统单总线长度和温度器件接入数量。