探究汞灯测量透明薄片厚度的新方法

作者：蔡小镇; 蒋晓龙; 赵仲飚

来源：大学物理实验, 2011, (01): 26-28.

DOI：10.14139/j.cnki.cn22-1228.2011.01.006

• 等厚干涉
• 光程差
• 透明薄片
• 迈克尔逊干涉仪 thick interference
• optical path difference
• transparent chips
• Michelson interferometer

本文介绍了一种利用汞灯的干涉现象来测量透明薄片厚度的新方法。

• 出版日期2011
• 单位浙江海洋大学