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摘要
<正> 在 X—射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点已被人们所重视。笔者先假设若干组二元体系,用 NRLXRF 程序计算理论相对强度 R_i,再由 Lachance-Traill 模式求得基本α系数,进而推算混合和修正α系数。1.基本α系数的计算:是元素间相互影响系数,若只考虑二元系其计算公式为:
- 出版日期1990
- 单位南京地质矿产研究所; 北京有色金属研究总院
<正> 在 X—射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点已被人们所重视。笔者先假设若干组二元体系,用 NRLXRF 程序计算理论相对强度 R_i,再由 Lachance-Traill 模式求得基本α系数,进而推算混合和修正α系数。1.基本α系数的计算:是元素间相互影响系数,若只考虑二元系其计算公式为:
