摘要

给出了 E E P R O M 器件的中子辐照实验结果,发现 28 C64 和 28 C256 的 14 M e V 中子辐照效应不是以往所认为的单粒子效应,而是总剂量效应。器件出现的错误不是随机的,而是存在中子注量阈值;不同的错误有不同的阈值。在相同的中子注量下,加电的器件出现错误,而不加电的器件无错误;对于 28 C256,“0”→“1”错误比“1”→“0”错误容易发生;存贮单元由一种状态彻底变为相反状态之前的一段时间内,其状态是不确定的;停止辐照后,中子注量不再增加时,错误数仍在增加,说明是控制部件出错导致的。