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Measurement of charge carrier mobilities in thin films on metal substrates by reflection time resolved terahertz spectroscopy
作者:Hempel H; Unold T; Eichberger R
来源:
Optics Express
, 2017, 25(15): 17227-17236.
DOI:10.1364/OE.25.017227
出版日期
2017-7-24
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