SoC嵌入式存储器内建自修复方法

作者：秦盼; 王健; 朱芳; 焦贵忠

来源：计算机工程与科学, 2019, 41(10): 1749-1754.

• SoC
• 嵌入式存储器
• 内建自测试
• 内建自修复

嵌入式存储器的内建自测试及修复是提高SoC芯片成品率的有效办法。详细描述了存储器良率的评估方法,提出了一种基于Mentor公司Tessent工具的存储器修复结构。该结构采用了冗余修复及电可编程熔丝eFuse硬修复的方法,具有很好的通用性及可行性,已多次应用在实际项目中。

• 出版日期2019
• 单位北方通用电子集团有限公司