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摘要
在同步辐射光源截面测量的小孔成像系统中,要用闪烁体将X光转换成可见光,并在CCD上接收和成像。闪烁体会将投影在其上的点源扩大为一个弥散斑,即影响成像系统空间分辨率因素之一的闪烁体点扩散函数。利用刀口测定闪烁体对X光的边扩散函数来确定其点扩散函数,结合图像背景的扣除与沿刀口方向的边扩散函数的算术平均等处理方法,分别测定了100μm和200μm厚硅酸钇镥、200μm厚氟化钡,以及3 mm厚钨酸镉闪烁体的点扩散函数的FWHM,以此作为北京同步辐射光源截面测量小孔成像系统中所选择的闪烁体的设计依据。
- 出版日期2011
- 单位中国科学院高能物理研究所
