高糖刺激促进硫氧还蛋白相互作用蛋白表达并引起胰岛β细胞损伤的机制研究

作者：卢迪; 邱平; 李婷; 梅希; 黎瑶^*

来源：中国糖尿病杂志, 2019, 27(04): 294-299.

• 高糖胁迫
• 活性氧化物
• 胰岛β细胞
• 硫氧还蛋白相互作用蛋白
• 硫氧还蛋白

目的研究高糖刺激通过过表达硫氧还蛋白相互作用蛋白(TXNIP)对胰岛β细胞产生损伤的分子机制。方法采用高糖培养基(25 mmol/L)对胰岛β细胞INS-1进行高糖刺激,并用缺氧标记物哌莫硝唑和反应性氧化物(ROS)探针检测对细胞缺氧和ROS堆积的刺激作用。确认高糖刺激对细胞缺氧和ROS堆积的影响后,采用半定量Western blot检测高糖和ROS堆积对TXNIP蛋白表达水平的影响;采用ROS清除剂N-乙酰半胱氨酸或ROS促进剂(tBHP)预处理细胞。采用LDH渗漏实验和Annexin V/PI流式细胞检测细胞凋亡技术检测高糖刺激产生的细胞损伤。结果高糖刺激胰岛β细胞48 h后,相对于0 h正常糖组,细胞出现缺氧现象,且ROS升高(4. 15±0. 19)倍(P<0. 05);48 h高糖刺激引起TXNIP蛋白水平升高,且硫氧还蛋白活性下降为正常糖组(0. 42±0. 17)倍(P<0. 05)。同时,ROS清除剂减弱了高糖刺激对TXNIP的表达促进作用;tBHP引起的ROS堆积可升高TXNIP表达量。LDH渗漏实验和凋亡率检测结果显示,高糖通过引起INS-1细胞中ROS堆积并引起细胞损伤和凋亡。结论高糖刺激可能通过引起ROS堆积引起TXNIP蛋白表达增加,抑制TRX活性并造成细胞损伤。

• 出版日期2019
• 单位成都医学院第一附属医院