电路系统中的闩锁效应及其预防设计

作者：吴允平; 苏伟达; 李汪彪; 蔡声镇

来源：现代电子技术, 2011, (01): 170-172.

DOI：10.16652/j.issn.1004-373x.2011.01.015

• 闩锁效应
• 上电时序
• 光耦
• 热插拔 latch-up effect
• power-on time-sequence
• photo-electric coupler
• hot-plugging

针对CMOS集成电路的闩锁效应,围绕实际应用的电路系统中易发生闩锁效应的几个方面进行了详细说明,提出了采用严格的上电时序、基于光耦的电路隔离设计和热插拔模块的接口方法,可以有效地降低发生闩锁效应的概率,从而提高电路系统的可靠性。

• 出版日期2011
• 单位福建师范大学