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Measurement and analysis of thermal conductivity of isotopically controlled silicon layers by time-resolved X-ray scattering
作者：Eon S; Frieling R; Plech A; Bracht H
来源：
Physica Status Solidi A-Applications and Materials Science
, 2016, 213(11): 3020-3028.
DOI：10.1002/pssa.201532607
出版日期
2016-11
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