新型单粒子效应测试系统控制程序的设计

作者：王晓辉; 苏弘; 童腾; 杨振雷; 赵兴文; 孔洁; 杨海波

来源：核电子学与探测技术, 2014, (11): 1311-1315.

• 单粒子效应
• 控制程序
• 多线程
• 运行效率 single event effects
• the control program
• multithreading
• operating efficiency

半导体集成电路(Integrated Circuit,IC)在辐射环境中,容易受到单粒子效应(Single Event Effect,SEE)的影响而发生故障。为了测试集成电路的SEE敏感性,验证SEE加固方法,设计了一套SEE测试系统。介绍了SEE测试系统控制程序的设计。控制程序采用引导式的流程管理,可扩展的待测器件信息管理,多线程数据采集和处理方法以及可靠的数据接收方法等多种设计方法,提高了程序的运行效率,保证了实验数据接收和处理的实时性和可靠性,良好地支撑了SEE测试系统的运行工作。

• 出版日期2014
• 单位中国科学院近代物理研究所; 中国科学院大学