一种基于边缘特征的晶粒缺陷检测方法|科研之友

摘要

本发明公开了一种基于边缘特征的晶粒缺陷检测方法，获取待检测的晶粒图像和模板晶粒图像；对待检测的晶粒图像和模板晶粒图像进行预处理，然后对模板晶粒图像进行轮廓检测，计算模板晶粒的尺寸参数，再寻找待检测的晶粒图像的所有轮廓，对找到的轮廓依次进行初步筛选，根据设置的精度等级，将待检测轮廓长宽与模板晶粒长宽进行比较，若待检测的轮廓长宽在限定范围内，则初步认定该轮廓是晶粒，再对其进行下一步检测；模板匹配：将初步认定为晶粒的轮廓与模板晶粒进行模板匹配，得到二者相关性；设置边缘检测框检测缺陷。本发明使用灰度直方图相似性模板匹配的方法实现晶粒查找并设置检测框检测边缘判断晶粒缺陷。

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