薄膜厚度对La_(0.85)Sr_(0.15)MnO_3/TiO_2异质pn结的整流特性的影响

作者:李彤; 裴志军; 孙守梅; 马兴兵; 冯立营; 张铭; 严辉
来源:Pan Tao Ti Hsueh Pao/chinese Journal of Semiconductors, 2008, (09): 1794-1798.

摘要

采用磁控溅射法制备的La0.85Sr0.15MnO3(100nm;5.0nm;17nm)/TiO2(70nm)异质pn结表现出明显的整流特性,其中La0.85Sr0.15MnO3(100nm)/TiO2异质pn结所呈现的整流特性相对较好,同时发现该整流特性在很宽的测量温度范围(80~320K)内存在.通过拟合发现,所有样品都呈现很大的串联电阻,并且串联电阻对整流特性有很大的影响.变温电流电压特性曲线显示随着测量温度的降低,结电压增大,这可能是由于随着测量温度的变化导致界面电子结构的变化.应该指出的是,La0.85Sr0.15MnO3/TiO2异质pn结结电阻随温度变化曲线显示出单层LSMO所特有的金属绝缘相变特性,并且在低温测量时,结电阻随着测量温度的降低而增大,这个变化趋势也同拟合后的串联电阻变化趋势相似.