摘要

提出了一种计算凹面光栅成像的谱线强度分布和计算凹面光栅3种随机误差造成的杂散光强度分布的方法,这种方法在采用光线追迹方法的同时,也考虑到了凹面光栅的衍射效率及光栅误差造成的衍射及散射作用,并以一Seya_Namioka型光谱仪为例说明结果

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