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摘要
目的:探讨新生儿低血糖脑损伤临床特征及高危因素。方法:将35例新生儿低血糖并发脑损伤患儿与87例低血糖无脑损伤患儿临床资料进行对比分析,对相关危险因素采用单因素及多因素回归分析。结果:新生儿低血糖并发脑损伤常见临床表现为惊厥、嗜睡、呼吸异常、肌张力减低,头颅MRI表现为顶枕部皮层受累。单因素分析显示:胎龄、出生体质量,出生5minApgar评分、延迟喂养、血糖水平、低血糖持续时间,惊厥与新生儿低血糖脑损伤有关(P<0.05)。多因素回归分析显示:5minApgar评分(<5分)、延迟喂养(生后24h)、低血糖程度(≤1.5mmol/L)、低血糖持续时间>12h、新生儿惊厥与新生儿低血糖脑损伤有关(P<0.05)。结论:新生儿惊厥、低血糖程度(≤1.5mmol/L)、5minApgar评分(<5分)、低血糖持续时间>12h、延迟喂养(生后24h),是新生儿低血糖脑损伤高危因素。新生儿低血糖需早期发现、早期干预,以减少脑损伤发生。
- 出版日期2017
- 单位安徽医科大学
