卫星电子组件高加速寿命试验技术

作者：郭秀才; 冯伟泉; 郑会明; 杨力坡; 李树鹏; 马腾飞

来源：航天器环境工程, 2011, (05): 454-458.

• 高加速寿命试验
• 步进应力
• 工作限
• 破坏限
• 试验剖面
• 电路盒 HALT
• step stress
• operating limit
• destruction limit
• test profile
• circuit unit

高加速寿命试验(HALT)是一种高效的可靠性试验。通过高加速应力作用,激发产品潜在缺陷变为故障并进行改进,以达到其在使用中几乎不会出现故障的目的。文章阐述了试验的基本原理、试验剖面和失效分析等等,根据航天产品的特点,给出了应力极限确定步骤和温度控制方法,并将该方法在卫星典型电子组件上进行了应用研究。

• 出版日期2011
• 单位北京卫星环境工程研究所