登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
Microstructure influenced variation in the local surface electrical heterogeneity in thickening Al-doped ZnO films: Evidence using both scanning tunnelling spectroscope and conductive atomic force microscope
作者:Patel Tvarit A; Singh Chetan C; Panda Emila
来源:
Materials Science in Semiconductor Processing
, 2018, 75: 65-74.
DOI:10.1016/j.mssp.2017.11.020
出版日期
2018-3-1
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献