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An Effective Deterministic Test Generation for Test-Per-Clock Testing

作者：Liu, Tieqiao*; Kuang, Jishun; You, Zhiqiang; Cai, Shuo
来源：IEEE Aerospace and Electronic Systems Magazine, 2014, 29(5): 25-33.
DOI：10.1109/MAES.2014.130192

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更新时间：2021-11-22 05:53